HM-MAP系列吸波貼片

HM-MAP系列吸波貼片采用易面型稀土鐵系化合物為吸收介質(zhì)，利用新型吸收原理——電磁共振以及渦流損耗，制備的吸波材料，磁共振頻率10 GHz，滿(mǎn)足阻抗匹配，具有“薄、輕、寬、強(qiáng)”的特性，具備全波段、寬頻帶電磁波吸收、屏蔽性能。

HM-MAP系列吸波貼片產(chǎn)品特性

HM-MAP系列吸波貼片采用易面型稀土鐵系化合物為吸收介質(zhì)，利用新型吸收原理——電磁共振以及渦流損耗，制備的吸波材料，磁共振頻率10GHz，滿(mǎn)足阻抗匹配，具有“薄、輕、寬、強(qiáng)”的特性，具備全波段、寬頻帶電磁波吸收、屏蔽性能。

HM-MAP系列吸波貼片應(yīng)用領(lǐng)域

廣泛應(yīng)用于航天、航空、兵器、船舶、雷達(dá)、導(dǎo)航、通信EMI&EMC領(lǐng)域，其產(chǎn)品在抑制電磁波干擾、改善天線(xiàn)方向、提高雷達(dá)測(cè)向測(cè)距準(zhǔn)確性，通信系統(tǒng)雜波抑制、抗電磁干擾，RCS縮減，微波、射頻器件、高頻設(shè)備中使用，有效抑制微波模塊內(nèi)的反射以及腔體諧振。

HM-MAP系列吸波貼片技術(shù)參數(shù)

HM-MAP系列吸波貼片物理性能

 HM-MAP系列吸波貼片使用方法

       防止機(jī)箱內(nèi)不必要的輻射

將HM-MAP系列吸波貼片直接貼在機(jī)殼內(nèi)壁，防止空腔共振，抑制機(jī)殼造成的反射噪聲；

防止電子元件產(chǎn)生的輻射

將HM-MAP系列吸波貼片貼在LSI或者IC表面，抑制LSI或者IC的噪聲輻射，防止天線(xiàn)輻射效應(yīng)；

將HM-MAP系列吸波貼片置于兩基板之間，抑制基板間的串?dāng)_。

防止電線(xiàn)產(chǎn)生的輻射

將HM-MAP系列吸波貼片貼在柔性電路板上，濾除耦合雜波；

將HM-MAP系列吸波貼片纏繞電線(xiàn)表面，防止電線(xiàn)產(chǎn)生的輻射。

防止開(kāi)口邊緣產(chǎn)生的輻射

將HM-MAP系列吸波貼片貼在開(kāi)口邊緣，防止金屬表面的高頻電流產(chǎn)生輻射效應(yīng)。

HM-MAP系列吸波貼片外觀檢測(cè)

外觀檢測(cè)條件

視力要求

裸視或矯正視力1.0以上；

 目視距離

肉眼與被測(cè)物距離30～45cm范圍內(nèi)；

 目視角度

待測(cè)產(chǎn)品垂直旋轉(zhuǎn)角度﹢／﹣75°（從上到下），水平旋轉(zhuǎn)角度﹢／﹣75°（從左到右）；

 目視時(shí)間

掃描整個(gè)檢測(cè)面，5～10秒鐘為宜；

照明要求

在自然光或者60～100W的日光燈照明條件下檢驗(yàn)，距離光源50～55cm處，照度900～1200Lux。

外觀檢測(cè)項(xiàng)目：

外觀檢測(cè)判定

       嚴(yán)重缺陷（MAJ）：指影響產(chǎn)品正常使用功能，降低產(chǎn)品可靠性或嚴(yán)重影響產(chǎn)品外觀的缺陷；

輕微瑕疵（MIN）：偏離限定標(biāo)準(zhǔn)，但不影響產(chǎn)品正常使用功能或外觀不太明顯的瑕疵。

備注：可以根據(jù)客戶(hù)需求，采取逆向工程即逆向技術(shù)，根據(jù)MAXWELL方程，采用遺傳算法（GA），實(shí)現(xiàn)吸波材料仿真（CAD），發(fā)揮吸收介質(zhì)特性設(shè)計(jì)，縮短吸波材料研制周期，滿(mǎn)足客戶(hù)對(duì)于HM-MAP系列吸波貼片的特定需求。

HM-MAP系列吸波貼片的性能優(yōu)于美國(guó)ARC企業(yè)Standard Silicone MAGRAM、DD、FS、FD、ND、UD、TP系列產(chǎn)品，美國(guó)Du Pont企業(yè)、Laird企業(yè)、Emerson&Cuming企業(yè)BSR、FGM、GDS、MCS、Q-Zorb、CoolZorb系列產(chǎn)品，可以有效替代進(jìn)口。